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Microscopia Avançada

Microscopia Analítica

Caracterização estrutural e morfológica de materiais com tecnologia de ponta e precisão nanométrica.

Tecnologias Microscópicas Avançadas

Nossos serviços de microscopia oferecem análises estruturais e morfológicas detalhadas, permitindo a caracterização precisa de materiais em escalas que vão do micrométrico ao nanométrico. Realizamos microscopia eletrônica (MEV, MET e STEM) e microscopia de força atômica sob demanda no nosso laboratório em São Paulo, atendendo empresas de todo o Brasil que precisam de análise terceirizada para pesquisa, desenvolvimento e controle de qualidade.

Análise morfológica

Caracterização estrutural

Análise composicional

Técnicas Disponíveis

Oferecemos uma ampla gama de técnicas microscópicas para atender às suas necessidades de caracterização.

MEV

Microscopia Eletrônica de Varredura

Análise detalhada da morfologia e composição superficial com resolução nanométrica.

Aplicações por Mercado
Farma
Materiais
Cosméticos
Morfologia de partículas de fármacos
Uniformidade de revestimento de comprimidos
Análise de estrutura cristalina de APIs
MET

Microscopia Eletrônica de Transmissão

Caracterização estrutural interna e cristalográfica com resolução atômica.

Aplicações por Mercado
Farma
Materiais
Cosméticos
Carreadores nanoparticulados de fármacos
Cristalinidade de APIs
Estrutura de lipossomas
AFM

Microscopia de Força Atômica

Análise de topografia superficial e propriedades mecânicas em escala nanométrica com precisão excepcional.

Aplicações por Mercado
Farma
Materiais
Cosméticos
Rugosidade de superfície de comprimidos
Propriedades mecânicas de nanopartículas
Força de adesão de revestimentos

Perguntas Frequentes

Qual a diferença entre MEV e MET?

A Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) forma imagem da superfície da amostra, revelando morfologia, textura e composição superficial com resolução nanométrica. A Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) faz o feixe de elétrons atravessar um corte ultrafino da amostra, revelando estrutura interna e cristalografia com resolução atômica. A MEV é o ponto de partida para a maioria das perguntas de morfologia; a MET é usada quando o objeto de estudo é uma nanoestrutura interna — uma rede cristalina, a seção transversal de um revestimento, o núcleo de uma nanopartícula.

O que a microscopia de força atômica (AFM) mostra que a microscopia eletrônica não mostra?

A AFM mapeia a superfície com uma sonda física em vez de um feixe de elétrons, medindo diretamente topografia e propriedades mecânicas ou de adesão locais — sem as exigências de vácuo e recobrimento condutivo da microscopia eletrônica. É a técnica indicada quando o interesse está em rugosidade superficial, uniformidade de filmes ou comportamento mecânico em escala nanométrica, e não apenas na imagem.

Qual preparo de amostra é necessário para microscopia eletrônica?

O preparo depende da técnica e das propriedades da própria amostra (condutividade, espessura, umidade). A MEV geralmente exige menos preparo que a MET, que requer um corte ultrafino para que os elétrons atravessem a amostra. Amostras não condutivas podem precisar de um recobrimento condutivo fino para MEV. Os requisitos de amostra são confirmados para cada projeto antes da análise.

Qual o prazo de uma análise de microscopia?

O prazo depende da técnica, do número de técnicas combinadas e do preparo de amostra necessário (como corte ultrafino para MET). Escopo e prazo são definidos na proposta do projeto antes do início do trabalho, com base no material e na pergunta analítica específica.

Qual laboratório faz microscopia eletrônica (MEV/MET) no Brasil?

A Percevia é um laboratório analítico brasileiro com sede em São Paulo, oferecendo microscopia eletrônica de varredura e de transmissão (MEV/MET), microscopia eletrônica de transmissão por varredura (STEM) e microscopia de força atômica (AFM) como serviço analítico terceirizado para empresas dos setores farmacêutico, cosmético, de materiais e de saneantes em todo o Brasil.
CRODA
Instituto IRYCIS
SNASH
Brenntag
INCLIVA

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