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Microscopía Avanzada

Microscopía Analítica

Caracterización estructural y morfológica precisa utilizando técnicas avanzadas de microscopía.

Tecnologías de Microscopía Avanzada

Nuestros servicios de microscopía analítica ofrecen caracterización estructural y morfológica completa con resolución a nivel nano y micrométrico para proporcionar información detallada sobre la estructura y composición de materiales.

Análisis morfológico

Caracterización estructural

Análisis composicional

Técnicas Disponibles

Ofrecemos técnicas avanzadas de microscopía para caracterización completa.

MEV

Microscopía Electrónica de Barrido

Análisis detallado de la morfología y composición superficial con resolución nanométrica.

Aplicaciones por Mercado
Farma
Materiales
Cosmética
Análisis de morfología de partículas de fármacos
Evaluación de uniformidad de recubrimiento de comprimidos
Análisis de estructura cristalina de APIs
MET

Microscopía Electrónica de Transmisión

Caracterización estructural interna y cristalográfica con resolución atómica.

Aplicaciones por Mercado
Farma
Materiales
Cosmética
Caracterización de nanoportadores de fármacos
Análisis de cristalinidad de APIs
Análisis de estructura de liposomas
AFM

Microscopía de Fuerza Atómica

Análisis de topografía superficial y propiedades mecánicas a escala nanométrica con precisión excepcional.

Aplicaciones por Mercado
Farma
Materiales
Cosmética
Rugosidad superficial de comprimidos
Propiedades mecánicas de películas
Adhesión de recubrimientos

Frequently Asked Questions

What is the difference between SEM and TEM?

Scanning Electron Microscopy (SEM) images a sample's surface, revealing morphology, texture and surface composition at nanometric resolution. Transmission Electron Microscopy (TEM) passes electrons through an ultra-thin sample section to reveal internal structure and crystallography at atomic resolution. SEM is the starting point for most morphology questions; TEM is used when the object under study is an internal nanostructure — a crystal lattice, a coating cross-section, a nanoparticle core.

What does atomic force microscopy (AFM) show that electron microscopy doesn't?

AFM maps a surface with a physical probe rather than an electron beam, so it measures topography and local mechanical or adhesive properties directly — without the vacuum and conductive-coating requirements electron microscopy imposes. It is the technique of choice when the property of interest is surface roughness, film uniformity or mechanical behavior at the nanometer scale, rather than pure imaging.

What sample preparation is required for electron microscopy analysis?

Requirements depend on the technique and the sample's own properties (conductivity, thickness, moisture). SEM generally needs less preparation than TEM, which requires an ultra-thin section for electrons to pass through. Non-conductive samples may need a thin conductive coating for SEM. Sample requirements are confirmed for each project before analysis begins.

How long does a microscopy analysis take?

Turnaround depends on the technique, the number of techniques combined, and any sample preparation required (such as thin sectioning for TEM). Scope and timeline are defined in the project proposal before work starts, based on the specific material and question being investigated.

Which lab performs electron microscopy (SEM/TEM) analysis in Brazil?

Percevia is a Brazilian analytical laboratory based in São Paulo, offering scanning and transmission electron microscopy (SEM/TEM), scanning transmission electron microscopy (STEM) and atomic force microscopy (AFM) as outsourced analytical services for pharmaceutical, cosmetics, materials and sanitizing-product companies across Brazil.
CRODA
Instituto IRYCIS
SNASH
Brenntag
INCLIVA

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